测量光栅实现毫米级尺寸检测的核心原理在于利用光栅阵列的光束遮挡机制来精确测量物体的外部尺寸。
具体过程涉及发射端和接收端密集排列的多个红外感应单元（通常每毫米分布数十个光束），当物体通过检测区域时，部分光束被遮挡，系统实时分析光束遮挡的数量、最高点和最低点位置，从而计算出物体的长度、宽度或高度等尺寸参数。例如，最小可检测尺寸可达±2.5毫米，适用于快递包裹或工件检测等场景。
这种检测技术基于非接触式光学原理，避免了机械磨损，且响应速度快、抗干扰性强。信号处理单元将光束遮挡变化转换为电脉冲信号，通过计数解码实现毫米级分辨率。
在实际应用中，测量光栅常用于自动化产线，如尺寸分拣或坐标定位系统，其精度可通过定制光束密度和电子细分技术进一步提升。
